Produktneuheit 08. Mai 2025
Automatisiertes Prüfsystem E-LIT
Thermographie-System zur zerstörungsfreien
Elektronik- und Halbleitermodulprüfung
Das Thermographie-Prüfsystem »E-LIT« ist eine automatisierte Lösung
zur berührungslosen Fehlerinspektion von Halbleitermaterialien sowie
von elektronischen Bauteilen und Schaltungen. Das modulare System
kann sowohl frühzeitig während der Entwicklung als auch später bei
der laufenden Fertigung eingesetzt werden und nutzt Methoden der
Lock-In-Thermographie mit elektrischer Anregung. So können die
verschiedensten Defekte präzise erkannt und lokalisiert werden, wie
z. B. Punkt- und Linien-Kurzschlüsse oder Handlings-, Fertigungs- und
Oxidationsfehler.
Elektronik- und Halbleitermodulprüfung
Das Thermographie-Prüfsystem »E-LIT« ist eine automatisierte Lösung
zur berührungslosen Fehlerinspektion von Halbleitermaterialien sowie
von elektronischen Bauteilen und Schaltungen. Das modulare System
kann sowohl frühzeitig während der Entwicklung als auch später bei
der laufenden Fertigung eingesetzt werden und nutzt Methoden der
Lock-In-Thermographie mit elektrischer Anregung. So können die
verschiedensten Defekte präzise erkannt und lokalisiert werden, wie
z. B. Punkt- und Linien-Kurzschlüsse oder Handlings-, Fertigungs- und
Oxidationsfehler.
InfraTec GmbH
Infrarotsensorik und
Messtechnik
Ansprechpartner
Frau Lisa Marie Calow